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電子元器件損壞特性總結(轉)
發表日期:2018-09-28

    一(yi)切電(dian)(dian)子(zi)裝置如洗衣機(ji)、冰箱、空調、計算機(ji)、儀(yi)器(qi)(qi)、儀(yi)表、汽車電(dian)(dian)子(zi)等都是形形色色的(de)(de)(de)(de),不同功能(neng)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)路組(zu)(zu)成。根據張飛第(di)三大定律組(zu)(zu)成電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)路的(de)(de)(de)(de)基本單位是電(dian)(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian),這些(xie)器(qi)(qi)件(jian)(jian)都是以硬件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)形式存在(zai)的(de)(de)(de)(de),它們(men)都有各自的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)氣(qi)參(can)數,如電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流及功率(lv)特性等,因此,元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)(jian)是最易損(sun)壞(huai)(huai)的(de)(de)(de)(de)物品,但其(qi)故(gu)障(zhang)卻是有規律可(ke)循的(de)(de)(de)(de)。一(yi)般的(de)(de)(de)(de)故(gu)障(zhang)表現為電(dian)(dian)氣(qi)參(can)數損(sun)壞(huai)(huai)和(he)物理損(sun)壞(huai)(huai)兩類(lei),那么(me)電(dian)(dian)氣(qi)參(can)數的(de)(de)(de)(de)損(sun)壞(huai)(huai)又包含(han)電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流超(chao)過額定值(zhi)(zhi)導(dao)致的(de)(de)(de)(de)損(sun)壞(huai)(huai),物理的(de)(de)(de)(de)損(sun)壞(huai)(huai)包括斷(duan)裂,變形,阻值(zhi)(zhi)參(can)數變化(hua)等表現形式。

一、電阻(zu)損壞的特(te)點

    電(dian)阻(zu)是(shi)(shi)電(dian)器設備中數量最多的元件(jian),但不是(shi)(shi)損(sun)壞率最高的元件(jian)。電(dian)阻(zu)損(sun)壞以開路(lu)最常(chang)(chang)見,阻(zu)值(zhi)變(bian)大較少(shao)見,阻(zu)值(zhi)變(bian)小十分少(shao)見。常(chang)(chang)見的有碳膜電(dian)阻(zu)、金屬膜電(dian)阻(zu)、線繞電(dian)阻(zu)和(he)保險電(dian)阻(zu)幾(ji)種。

    前兩種電(dian)阻(zu)(zu)應用最廣(guang),其損(sun)(sun)壞(huai)的特(te)點:一是(shi)低阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)(100Ω以下(xia))和高(gao)阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)(100kΩ以上)的損(sun)(sun)壞(huai)率較高(gao),中間(jian)阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)(如幾百(bai)歐到幾十千(qian)歐)的極少損(sun)(sun)壞(huai);二(er)是(shi)低阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)阻(zu)(zu)損(sun)(sun)壞(huai)時往往是(shi)燒焦發黑,很容易發現,而高(gao)阻(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)電(dian)阻(zu)(zu)損(sun)(sun)壞(huai)時很少有(you)痕(hen)跡。

    線(xian)繞電(dian)(dian)阻一(yi)般(ban)用(yong)作大(da)電(dian)(dian)流限流,阻值(zhi)不大(da)。圓(yuan)柱形線(xian)繞電(dian)(dian)阻燒壞(huai)(huai)時有(you)的(de)(de)會(hui)發(fa)黑或表面(mian)爆(bao)皮、裂(lie)紋,有(you)的(de)(de)沒(mei)有(you)痕(hen)跡(ji)。水泥電(dian)(dian)阻是線(xian)繞電(dian)(dian)阻的(de)(de)一(yi)種,燒壞(huai)(huai)時可(ke)能會(hui)斷裂(lie),否則(ze)也沒(mei)有(you)可(ke)見痕(hen)跡(ji)。保險電(dian)(dian)阻燒壞(huai)(huai)時有(you)的(de)(de)表面(mian)會(hui)炸掉一(yi)塊皮,有(you)的(de)(de)也沒(mei)有(you)什么痕(hen)跡(ji),但絕不會(hui)燒焦發(fa)黑。根據以上特點,在檢查(cha)電(dian)(dian)阻時可(ke)有(you)所側重,快速(su)找出損(sun)壞(huai)(huai)的(de)(de)電(dian)(dian)阻。

二、電解電容(rong)損壞(huai)的特(te)點

電(dian)解電(dian)容在電(dian)器設備(bei)中的用量很大,故(gu)障率很高。電(dian)解電(dian)容損壞有以下(xia)幾種表(biao)現:

一(yi)是(shi)完全失去容量或容量變小;

二是輕微或嚴重漏電;

三是失(shi)去容量(liang)或容量(liang)變(bian)小兼有漏(lou)電。

查找損壞的電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容(rong)方法有:

(1)看:有(you)的(de)電容(rong)損壞時會(hui)漏液,電容(rong)下(xia)面的(de)電路板(ban)表面甚(shen)至電容(rong)外(wai)表都會(hui)有(you)一層油(you)漬,這(zhe)種(zhong)電容(rong)絕(jue)對不(bu)能(neng)再用(yong);有(you)的(de)電容(rong)損壞后會(hui)鼓起,這(zhe)種(zhong)電容(rong)也(ye)不(bu)能(neng)繼續使(shi)用(yong);

(2)摸:開(kai)機后有些漏(lou)電(dian)嚴重的電(dian)解(jie)電(dian)容會(hui)發熱(re),用(yong)手(shou)指(zhi)觸(chu)摸時(shi)甚至會(hui)燙手(shou),這種電(dian)容必須更(geng)換(huan);

(3)電解電容(rong)內部有電解液,長時間烘(hong)烤會使電解液變干,導致電容(rong)量減小(xiao),所以要重(zhong)點檢(jian)查(cha)散熱片及大(da)功率元器件附近的(de)電容(rong),離其越(yue)近,損壞的(de)可能性就越(yue)大(da)。

三(san)、二(er)極管(guan)、三(san)極管(guan)等(deng)半導體(ti)器件損壞(huai)的(de)特點

三極管的(de)損(sun)壞一般(ban)是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種(zhong)損(sun)壞表現:

一是熱(re)穩(wen)定(ding)性變差,表現(xian)為開(kai)機(ji)時正(zheng)常,工作一段時間(jian)后,發生軟擊穿;
另一種是PN結的特(te)性變差,用(yong)萬用(yong)表R×1k測(ce),各PN結均正(zheng)常(chang),但上機后不能正(zheng)常(chang)工(gong)作,如果用(yong)R×10或R×1低(di)量(liang)程檔測(ce),就會發現(xian)其PN結正(zheng)向阻(zu)值(zhi)(zhi)比正(zheng)常(chang)值(zhi)(zhi)大。

測(ce)量二、三(san)極(ji)管可(ke)以用指針萬用表在路測(ce)量,較準確(que)的方法(fa)是:

將萬用(yong)表(biao)置R×10或R×1檔(dang)(一般用(yong)R×10檔(dang),不明(ming)顯(xian)時再用(yong)R×1檔(dang))在路(lu)測二、三(san)極管(guan)的PN結(jie)正、反(fan)向電(dian)(dian)阻(zu),如果正向電(dian)(dian)阻(zu)不太大(da)(相對正常(chang)值(zhi)(zhi)),反(fan)向電(dian)(dian)阻(zu)足(zu)夠大(da)(相對正向值(zhi)(zhi)),表(biao)明(ming)該PN結(jie)正常(chang),反(fan)之就值(zhi)(zhi)得(de)懷疑,需焊下(xia)后(hou)再測。這是因為一般電(dian)(dian)路(lu)的二、三(san)極管(guan)外圍(wei)電(dian)(dian)阻(zu)大(da)多在幾百、幾千歐以上,用(yong)萬用(yong)表(biao)低(di)阻(zu)值(zhi)(zhi)檔(dang)在路(lu)測量,可(ke)以基(ji)本忽略外圍(wei)電(dian)(dian)阻(zu)對PN結(jie)電(dian)(dian)阻(zu)的影響(xiang)。

四、集成電路損壞(huai)的特點

集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu)內部結(jie)構(gou)復雜,功能很多,任(ren)何一(yi)(yi)部分損(sun)壞都(dou)無法正常工作(zuo)。集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu)的(de)損(sun)壞也(ye)有(you)兩種:徹底(di)損(sun)壞、熱穩(wen)(wen)定性不良。徹底(di)損(sun)壞時,可(ke)(ke)將其(qi)拆下(xia),與正常同型號集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu)對比測(ce)其(qi)每一(yi)(yi)引(yin)腳對地的(de)正、反向電(dian)(dian)阻,總(zong)能找(zhao)到其(qi)中一(yi)(yi)只或(huo)幾(ji)只引(yin)腳阻值異常。對熱穩(wen)(wen)定性差的(de),可(ke)(ke)以在設(she)備工作(zuo)時,用無水酒精冷(leng)卻被懷(huai)疑的(de)集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu),如果故障發(fa)生(sheng)時間推遲或(huo)不再發(fa)生(sheng)故障,即可(ke)(ke)判定。通(tong)常只能更(geng)換新(xin)集成(cheng)電(dian)(dian)路(lu)來排除。

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